Федеральное государственное автономное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования
Код курса:
СРОКИ ОБУЧЕНИЯ:
36 часов
СТОИМОСТЬ
16 000
ДОКУМЕНТ
Удостоверение о повышении квалификации
ДЛЯ КОГО
Инженерно-технические работники и специалисты учреждений и предприятий наноиндустрии, специалисты ЦСМ, ЦГСЭН, санитарно-гигиенических, заводских и специализированных лабораторий, а также лабораторий, занимающихся токсикологической оценкой материалов, изделий и объектов, включающей продукцию нанотехнологий, специалистов отечественных фирм и представительств зарубежных фирм, занимающихся производством и продажей современных аналитических средств измерения.
ГРАФИК ПРОВЕДЕНИЯ КУРСА
по мере формирования группы |
ТЕМАТИЧЕСКИЙ ПЛАН
Модуль 3. Метрологическое обеспечение фотовольтаики и колориметрии, в том числе светодиодов, солнечных батарей, колориметрических измерений.
Тема 3.1. Метрологическое обеспечение контроля фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов и энергосберегающей светотехники на их основе.
Тема 3.1.1. Физические и методические основы измерений фотометрических и колориметрических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных гетероструктур (светодиодов) и энергосберегающей светотехники на их основе.
Тема 3.1.2. Нормативно-техническая и эталонная база метрологического обеспечения контроля характеристик светодиодных излучателей и продукции на их основе.
Тема 3.1.3. Методы и средства измерений, используемые при исследовании характеристик светодиодов и продукции на их основе. Разработка и аттестация методик измерений.
Тема 3.1.4 Методы и средства поверки и калибровки средств измерений, используемых при исследовании характеристик светодиодных излучателей и продукции на их основе.
Тема 3.1.5 Вспомогательное лабораторное оборудование, подготовка к аккредитации калибровочных лабораторий в области метрологического обеспечения фотометрических и колориметрических характеристик светодиодных излучателей и продукции на их основе.
Тема 3.2. Метрологическое обеспечение контроля параметров эталонных солнечных ячеек и батарей на их основе, используемых для производства энергии в наземных и космических условиях.
Тема 3.2.1 Физические и методические основы метрологического обеспечения для калибровки спектральной чувствительности эталонных солнечных ячеек и тока короткого замыкания ячеек.
Тема 3.2.2 Нормативно-техническая и эталонная база метрологического обеспечения контроля параметров эталонных солнечных ячеек.
Тема 3.2.3 Методы и средства измерений, используемые при калибровке эталонных солнечных ячеек.
Тема 3.2.4 Вспомогательное лабораторное оборудование, подготовка к аккредитации калибровочных лабораторий в области метрологического обеспечения эталонных солнечных ячеек и батарей на их основе.
Перейти к полному курсу из 8 модулей