V Международной научной конференции «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»

Приглашаем принять участие в работе V Международной научной конференции «Стандартные образцы в измерениях и технологиях». Мероприятие проходит в юбилейный год 180-летия Всероссийского научно-исследовательского института метрологии им Д.И. Менделеева и приурочено к 80-летию Уральского научно-исследовательского института метрологии.

ТЕМАТИКА КОНФЕРЕНЦИИ
Тематика конференции охватывает все направления, в которых стандартные образцы играют определенную роль. В ходе конференции планируется обсудить вопросы:
● теории и практики создания, производства, распространения и применения стандартных образцов;
● метрологического обеспечения измерений в различных областях экономики;
● первичных референтных методик измерений и референтных методик измерений;
● метрологической прослеживаемости измерений;
● межлабораторных сличительных испытания;
● международного сотрудничества в области стандартных образцов;
● вопросы общеметрологического характера.

МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ КОНФЕРЕНЦИИ
Екатеринбург — крупнейший центр химической науки и промышленности России, с богатым историческим и культурным наследием, имеющий уникальные исторические памятники, музеи, храмы.

ФОРМАТ ПРОВЕДЕНИЯ ОЧНО — ЗАОЧНОЕ
В связи со сложившейся эпидемиологической ситуацией, связанной с распространением CoViD-19, предусмотрено дистанционное участие в конференции, в формате online.

Конференция предполагает проведение пленарных и стендовых секций, а также возможность организации тематических дискуссий в формате Круглого стола, посвященных актуальным проблемам в области стандартных образцов.

Организаторы конференции надеются, что большинство представителей конференции примут участие в очном формате, обезопасив себя прививками с соблюдением эпидемиологических мер предосторожности.

УЧАСТИЕ
К участию в конференции приглашаем всех, кто заинтересован в развитии и определении направлений научных и прикладных исследований по вопросам стандартных образцов. А также их популяризации стандартных образцов, как технической и нормативно-методической основы, необходимой для обеспечения единства и точности измерений.

Подробнее: http://conference.gsso.ru/